SA5原子熒光形態(tài)分析儀校準(zhǔn)方法
更新時(shí)間：2024-11-14 點(diǎn)擊次數(shù)：1823次
SA5原子熒光形態(tài)分析儀校準(zhǔn)方法：
1.環(huán)境條件：
儀器應(yīng)置于清潔、無(wú)塵、通風(fēng)良好的環(huán)境中，溫度保持在15～30℃，溫度波動(dòng)不超過(guò)3℃。相對(duì)濕度應(yīng)在5%～85%范圍內(nèi)。
電源電壓需穩(wěn)定在(220±22) V，頻率在(50±0.5) Hz。儀器應(yīng)放置在無(wú)振動(dòng)和電磁干擾的水平工作臺(tái)上，并保證良好接地。
2.校準(zhǔn)項(xiàng)目：
針對(duì)SA5系列原子熒光形態(tài)分析儀的校準(zhǔn)項(xiàng)目包括柱溫箱溫度設(shè)定、基線噪聲等。柱溫箱溫度設(shè)定值的允許誤差為±2℃，其溫度穩(wěn)定性應(yīng)≤ 1℃/h，基線噪聲應(yīng)≤ 10 mV或≤ 1% FS。
校準(zhǔn)時(shí)需特別注意檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度與精密度，確保小檢出量和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD）在技術(shù)參數(shù)要求內(nèi)。例如，砷元素形態(tài)As（III）的小檢出量為0.04ng，RSD應(yīng)≤ 5%。
3.技術(shù)指標(biāo)：
根據(jù)企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)信息公共服務(wù)平臺(tái)提供的數(shù)據(jù)，校準(zhǔn)時(shí)應(yīng)檢查小檢出量、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差等技術(shù)指標(biāo)是否符合要求。
具體操作中，需使用標(biāo)準(zhǔn)溶液對(duì)儀器進(jìn)行校驗(yàn)，確保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
4.校準(zhǔn)流程：
準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)溶液，按照儀器操作手冊(cè)進(jìn)行校準(zhǔn)。
設(shè)置好環(huán)境條件后，調(diào)整儀器至規(guī)定的狀態(tài)，包括柱溫箱溫度、電壓、頻率等。
執(zhí)行校準(zhǔn)程序，記錄校準(zhǔn)前后的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)，如噪聲水平、漂移、靈敏度等。
分析校準(zhǔn)結(jié)果，如有必要，進(jìn)行調(diào)整以達(dá)到最佳性能。
完成校準(zhǔn)后，進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)試以確保校準(zhǔn)效果。
5.校準(zhǔn)重要性：
校準(zhǔn)是保證SA5原子熒光形態(tài)分析儀測(cè)量準(zhǔn)確性和可靠性的關(guān)鍵步驟。
正確的校準(zhǔn)可以減少測(cè)量誤差，提高分析效率，延長(zhǎng)儀器使用壽命。
定期的校準(zhǔn)能夠預(yù)防儀器的異常運(yùn)行，避免因設(shè)備故障導(dǎo)致的損失。
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